EMI近場(chǎng)測(cè)試是電磁兼容性(EMC)輻射發(fā)射預(yù)兼容測(cè)試中的一個(gè)重要組成。EMI機(jī)構(gòu)使用EMI接收機(jī)和經(jīng)過準(zhǔn)確校準(zhǔn)的天線來測(cè)試3或10米距離上的被測(cè)設(shè)備(DUT)，這稱為遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量。
電磁場(chǎng)的特性主要由被測(cè)設(shè)備(DUT)以及它與接收機(jī)和天線的距離決定。遠(yuǎn)場(chǎng)輻射發(fā)射測(cè)量可以準(zhǔn)確地告訴我們被測(cè)器件是否符合相應(yīng)的EMC/EMI標(biāo)準(zhǔn)。
但是，遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試也有一些局限性。它無法告訴工程師，嚴(yán)重的輻射問題到底是來自于USB、LAN之類的通信接口，還是來自殼體的縫隙，或來自連接的電纜乃至電源線。在這種情況下，我們只能使用頻譜分析儀和近場(chǎng)探頭，通過近場(chǎng)測(cè)試來定位這些發(fā)射源。
EMI近場(chǎng)測(cè)試是一種相對(duì)量測(cè)試，這意味著它需要把被測(cè)器件的測(cè)試結(jié)果與基準(zhǔn)器件的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比較，以預(yù)測(cè)被測(cè)器件通過一致性測(cè)試的可能性。
需要注意的是，直接比較近場(chǎng)測(cè)試結(jié)果與EMI標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試極限是沒有意義的，因?yàn)闇y(cè)試讀數(shù)受許多因素的影響，包括探頭位置和被測(cè)器件的形狀等。
近場(chǎng)探頭的類型：
電磁場(chǎng)是由電場(chǎng)和磁場(chǎng)構(gòu)成。在近場(chǎng)，電場(chǎng)和磁場(chǎng)共同存在，其強(qiáng)度不構(gòu)成固定關(guān)系，所以EMI近場(chǎng)測(cè)試使用的近場(chǎng)探頭分為電場(chǎng)探頭和磁場(chǎng)探頭兩種。
選擇近場(chǎng)探頭往往要考慮幾個(gè)重要因素，包括分辨率、靈敏度和頻率范圍等。
近場(chǎng)探頭的靈敏度不是一個(gè)指標(biāo)，關(guān)鍵是看探頭和配合使用的頻譜分析儀或者接收機(jī)能不能容易的測(cè)量到輻射泄漏信號(hào)，并且有足夠的裕量去觀察改進(jìn)后的變化。
如果頻譜儀的靈敏度很高，我們可以選擇靈敏度相對(duì)較低一些的探頭。反之就必須選擇靈敏度高的探頭，甚至考慮外接前置放大器提高整體系統(tǒng)的靈敏度。
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更新時(shí)間：2022-10-11 
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